Raster-Ionenleitfähigkeitsmikroskop mit Booster-Piezo
Dieses Mikroskop ermöglicht das Abtasten der Oberfläche lebender Zellen mit einer Auflösung im Bereich von 70 nm.
Spezifikationen
- Verstärker
ELC 03X, npi electronic
- DAQ-Karte
National Instrument, PCI 6259
- Vorpositionierungsbereich der Probe
4mm×4mm
- Vorpositionierungsbereich der Scan-Pipette
25mm × 25mm
- Scan-Typ
Scannen der Pipette in alle drei Raumrichtungen, zusätzlicher schneller Piezo für das Zurückziehen der Pipette
- Scan-Einheit
PI-Nanocube, Scanbereich 100µm × 100µm × 100µm
- Schneller Piezo zum Zurückziehen der Pipette
PI-Ceramic, P 111.05, Steuereinheit: ENV 800, piezosystem Jena
Weitere Informationen
Dieses Gerät wurde in folgender Veröffentlichung detailliert beschrieben: